Le configurazioni da tavolo seguenti del microscopio della generazione TM3000 sul successo del relativo predecessore, sul TM-1000 e sulle offerte hanno migliorato significativamente la prestazione, compreso ingrandimento fino a 30,000x ed a migliore risoluzione, in un'unità che occupa 20% meno spazio ed ha un disegno economizzatore d'energia. Il nuovo TM3000 è un microscopio elettronico a scansione ...
Lo S-3700N è una pressione variabile analitica SEM del grande alloggiamento, offrente la versatilità analitica straordinaria unita con formazione immagine di rendimento elevato. I 5 che l'asse comandato da calcolatore ha motorizzato la fase con -20° ad inclinazione di +90° possono trattare gli esemplari fino a 300 millimetri di diametro ed alto fino a 110 millimetri. Il grande alloggiamento ha una ...
Il nuovo microscopio elettronico a scansione dell'emissione di campo SU9000 (Fe) (SEM) permette che 0.4 risoluzioni di nanometro siano realizzate ad una tensione accelerante di 30 chilovolt, con un ingrandimento utilizzabile fino a 3 milione volte.
Caratterizzando un nuovo tipo di fonte fredda dell'elettrone del Fe con la stabilità e la luminosità eccellenti, il SU9000 inoltre fornisce ...
Con l'applicazione di ricostruzione di rugosità 3D, il Phenom può generare le immagini e le misure tridimensionali di rugosità di submicrometer.
Questa domanda completamente automatizzata di microscopio elettronico a scansione di Phenom contribuirà a comunicare i risultati di formazione immagine ed estrarrà e prevederà i dati nascosto normalmente all'interno di un campione.
3D
la ...
Migliore, analisi più veloce della fibra
Ora, osservazione diretta e misura del micro e
le fibre nano è più facilmente che mai più veloci, migliori e prima, con
applicazione migliore di Fibermetric.
Congiuntamente al Phenom™ Il pro microscopio elettronico a scansione da tavolino G2, l'applicazione di Fibermetric permette che redigiate le informazioni esatte di formato ...
Il Phenom G2 puro è un attrezzo ideale per fare la transizione dal funzionamento con un microscopio chiaro a funzionare un microscopio elettronico. Il Phenom G2 puro è dotato dei componenti di base per i bisogni di formazione immagine di riunione.
Il Phenom G2 puro fornisce le immagini di alta qualità mentre usando le caratteristiche di base ed offre il tempo di caricamento più veloce ...
Microscopia correlativa
“ Spola & Find” è un'interfaccia correlativa per luce ed i microscopi elettronici e fornisce un senso diretto unire i vantaggi di microscopia chiara con le vaste funzionalità dei microscopi elettronici d'attacco di esame del bordo, per esempio la spettroscopia di raggi X dispersiva di energia.
Gli elementi chiave di questa interfaccia ...
MERLIN™
Potere analitico per il mondo di Secondario-Nanometro
- Analytics Nano
- Informazioni totali
- Facilità di uso
- Futuro assicurato
MERLIN™ - analisi ed alta risoluzione in uno
Il MERLIN FE-SEM sormonta il conflitto fra risoluzione di immagine e possibilità analitica. Il centro di MERLIN è la colonna aumentata dei GEMINI II che, con ...
SIGMA - microscopia analitica avanzata - ora disponibile con tecnologia di VP
Il SIGMA, caratterizzante la tecnologia di GEMINI® fornisce la formazione immagine eccezionale ed i risultati analitici da un microscopio di emissione di campo.
Il SIGMA ora è disponibile con la tecnologia variabile (VP) di pressione per formazione immagine e l'analisi eccezionali dell'esemplare non-conductive. ...
La risposta alle sfide nano moderne di scienza è la colonna unica di SEM dell'emissione di campo di GEMINI®, una soluzione specializzata riconosciuta dai microscopisti universalmente come il capo. Il nuovo SUPRA™ la serie, basata sulla terza colonna della generazione GEMINI®, offre una gamma completa dei modelli ultra di alta risoluzione di FESEMs per abbracciare tutti i campi delle applicazioni ...
Benchtop SEM di NeoScope
Il benchtop SEM di NeoScope complementa economicamente sia i microscopi ottici che SEMs tradizionale. Il NeoScope lo rende facile ottenere le alte immagini di ingrandimento con profondità del campo di alta risoluzione e grande per mezzo di un microscopio che è semplice funzionare come macchina fotografica digitale, ma ha l'ottica di elettrone potente dell'SEM.
Se usato ...
MTII recentemente ha acquistato la marca di Fullam di macchine di tensione, della curvatura miniatura e di compressione di prova specificamente progettate per uso in microscopi elettronici d'esplorazione (SEMs), di microscopi atomici della forza (AFMs) e di microscopi chiari (LMs). Il disegno doppio del leadscrew carica simmetricamente i campioni mentre li mantiene concentrati all'interno del campo ...
Il BRR, un SEM/AFM completamente integrato
Attrezzo di combinazione completamente integrata AFM/di SEM per le misure sistematiche. Una singola interfaccia di software permette al funzionamento di SEM e del AFM così come le misure di combinazione alla spinta di un tasto. Sulla base di Zeiss Auriga® e una versione speciale del nostro UHV AFM, questo strumento rappresenta non-più-ultra l'attrezzo ...
The JSM-7600F is a stateof- the-art thermal FE-SEM that successfully combines ultrahighresolution imaging with optimized analytical functionality. In addition, the JSM-7600F incorporates a large specimen chamber. This uniquely designed chamber, which accommodates a 200 mm diameter specimen, is optimized for a large variety of detectors for secondary electrons, backscattered electrons, EDS, WDS, EBSD, ...
Il JSM-6701F è un microscopio elettronico a scansione dell'emissione di campo (FESEM) che comprende una pistola fredda dell'emissione del giacimento del catodo, un vuoto ultra alto e lle tecnologie digitali rese sofisticato per formazione immagine di alta risoluzione di alta qualità di micro strutture. Caratterizzando una pistola conica del Fe e un obiettivo obiettivo dell'semi-in-obiettivo, il sistema ...
Il JSM-7500F è un'emissione di campo analitica SEM che caratterizza la prestazione aumentata, la facilità del funzionamento ed il rendimento energetico. Il JSM-7500F offre l'più alta risoluzione al chilovolt più basso di tutti i SEM disponibili, realizzante una risoluzione di 1.4 nanometro a 1 chilovolt. Il JSM-7500F fornisce la prestazione dell'in-obiettivo (1.0nm a 15kV) ma può trattare i campioni ...
The E3620 is a Scanning Electron Microscope (SEM)-based Critical Dimension (CD) measurement system for photomasks.
This CD SEM metrology system was designed specifically for 45nm technology node production and 32nm process development.
Its proprietary technology, the feature column design and a unique electron beam scanning, compensates a particular charging effect for photomasks measurement. ...
I Angstrom-SEM è un vero strumento multiuso e multiutente. Eccelle nella versatilità e nella flessibilità unendo il rendimento elevato in tutti i modi & nella particella di SEM contro facilmente del funzionamento in un ambiente materiale multiutente di ricerca. Questo strumento caratterizza un equilibrio perfetto fra la configurazione stabile e una risoluzione eccellente. I Angstrom-SEM mostra ...
La combinazione in situ di STM, di SEM e di SAM per l'analisi strutturale e chimica di alta risoluzione genera un attrezzo superiore di ricerca. La risoluzione atomica STM è complementata idealmente dalle capacità dei SEM all'immagine grandi aree, aiuto di identificare i centri di interesse ed infine aiuta il posizionamento preciso della punta di STM sul punto voluto sulla superficie.
Il ...
Apollo 300
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.
CS3100
X & movimento di Y
100mm x 100mm
Opzioni del catodo
Tungsteno
Risoluzione di SEI
<3.5nm @ 30kV
Tensione accelerante
30kV
CS3200
X & movimento di Y
100mm x 100mm
Opzioni del catodo
Tungsteno (riferimento)
LaB6 (opzione)
Risoluzione di SEI
<3.5nm @ 30kV (w)
<2.5nm @ 30kV ...
Modelli del riferimento 500
Catodo del tungsteno di X500S
Emissione di campo di X500FE Schottky
Modello
X500S X500FE
Opzioni del catodo
Fe del tungsteno (w) Schottky
Risoluzione di SEI a
Alto vuoto.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Tensione accelerante
riferimento 40kV
50kV riferimento di opzione 25kV
opzione 30kV
