Polarimetro ottico LSM-9001NIR

automaticodigitale

Panoramica
Valuta la distribuzione 2D della tensione (ritardo) su campioni a bassa differenza di fase come wafer per semiconduttori, vetro colorato e prodotti in resina acrilica colorata. Può analizzare fino a ca. 50×50 mm in circa 1 minuto.

Nome modello
Fully Automatic Strain Eye LSM-9001NIR

Metodo di ispezione
Metodo con analizzatore rotante NIR

Caratteristiche principali

• Misurazione completamente automatica: posizionare il campione e avviare la misurazione; i risultati sono calcolati dalle immagini acquisite dalla camera integrata senza giudizio soggettivo, riducendo il carico dell'operatore e la variabilità delle misure.
• Consente di misurare tensioni, stress residuo e crepe su wafer per semiconduttori e prodotti colorati o trasparenti difficili da valutare con polariscopi convenzionali.
• Software di analisi completo: mappe di distribuzione 2D con grafici di sezione, istogrammi per aree arbitrarie, visualizzazione 3D, esportazione CSV dei risultati e archiviazione immagini per analisi tracciabile.
• Sorgente luminosa LED ad alta luminanza per lunga durata e basso consumo, riducendo i costi di manutenzione e esercizio.

Specifiche

• Metodo di ispezione: Metodo con analizzatore rotante NIR
• Intervallo di misura (circa): 0–150 nm (ritardo)
• Dimensione area di misura (circa): 50×50 mm
• Tempo di misura: circa 1 minuto per 50×50 mm
• Spazio per posizionamento oggetto (altezza): Max 160 mm
• Dimensioni: W300 × D353 × H540 mm
• Peso: 22 kg
• Sorgente luminosa: LED ad alta luminanza
• Alimentazione: AC100–240V 50/60Hz; ingresso DC 24V 1.6A
• Componenti: unità principale, PC, cavi; Accessorio: copertura unità principale
• OS: Windows 10 Pro (64bit) Giapponese/Inglese