Misuratore di spessore a riflettanza spettrale SR710S
di rivestimentodi filmnastro

misuratore di spessore a riflettanza spettrale
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Caratteristiche

Applicazioni
di rivestimento, di film, nastro
Tecnologia
a riflettanza spettrale

Descrizione

Misurare rivestimenti sottili su laminati, metalli e substrati metallizzati Specificamente progettato per misurare rivestimenti organici sottili, trasparenti o leggermente pigmentati su pellicole di alluminio o metallizzate, pellicole stampate o substrati in foglio. - Misure ad alte prestazioni - con una velocità di misura di 7,5 millisecondi (fino a 10 volte più veloce di altri misuratori IR), l'SR710S fornisce prestazioni di misura ad alta velocità con precisione per ottenere misure robuste ed affidabili su un nastro in rapido movimento - Prestazioni comprovate in qualsiasi ambiente - non influenzate da cambiamenti nelle condizioni di processo e ambientali come le fluttuazioni di illuminazione, temperatura, umidità relativa, qualità dell'aria (polvere, evapora, contenuto, ecc.), flutter del nastro e variazioni del substrato da lotto a lotto - Tecnologia non nucleare - non richiede licenze speciali o protezioni di protezione - Controllo totale e visibilità del processo - quando l'SR710S è installato sugli scanner ad alte prestazioni di NDC e integrato in un sistema di web gauge TDi di NDC, questa piattaforma fornisce le migliori prestazioni di profilatura del web del settore per una qualità e una produttività superiori - Supporto preminente - tutti i sistemi sono supportati dall'organizzazione di assistenza clienti dedicata di NDC in tutto il mondo, disponibile 24 ore su 24, 7 giorni su 7 tramite il servizio cloud myNDC

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.