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... 1. Valutazione del contorno della superficie: Può valutare il raggio, l'angolo, la distanza, le coordinate, il cerchio, la sezione trasversale circolare e determinare i punti, ogni punto intersecante, l'asse delle coordinate, la linea ...
Chotest Technology Inc.
... La serie SJ5720-OPT è in grado di misurare sia la rugosità della superficie che il profilo dopo una sola scansione. Inoltre, è disponibile un modulo software dedicato per la misura e l'analisi di superfici asferiche di grandi dimensioni, ...
Chotest Technology Inc.
... Il profilometro ottico 3D SuperView W1 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il ...
Chotest Technology Inc.
... Il profilometro ottico 3D SuperView W3 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il ...
Chotest Technology Inc.
... Profilometri ottici nano 3D per superfici SuperView W1 N. modello: SuperView W1/W1-Pro Nome prodotto: Profilometri ottici di superficie Nano 3D Campo visivo standard: (0,98*0,98)mm Campo visivo massimo: ...
Chotest Technology Inc.
... 1. Una volta effettuata la scansione per i parametri di profilo e di rugosità come Ra e Pt 2. Rugosità della superficie: Parametro R, parametro P, parametro W, ecc. 3. Valutazione del profilo di superficie: Può valutare il raggio, l'angolo, ...
Chotest Technology Inc.
... Lo strumento di misurazione dei contorni a scansione bidirezionale SJ5780-200 è uno strumento di misurazione dei contorni completo a scansione attiva di grande portata e alta precisione. Lo strumento è dotato di asse X e asse Z con un ...
Chotest Technology Inc.
... Lo strumento di misurazione dei contorni a scansione bidirezionale SJ5780-300 è uno strumento di misurazione dei contorni completo a scansione attiva di grande portata e alta precisione. Lo strumento è dotato di asse X e asse Z con un ...
Chotest Technology Inc.
... Lo strumento di misurazione dei contorni a scansione bidirezionale SJ5780-400 è uno strumento di misurazione dei contorni completo a scansione attiva di grande portata e alta precisione. Lo strumento è dotato di asse X e asse Z con un ...
Chotest Technology Inc.
... Il profilometro ottico 3D SuperView W1 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il ...
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