Sistema di misurazione di rugosità MicroProf® 200

non distruttivoad alta risoluzione

L'FRT MicroProf® 200 è un dispositivo di misura ad alte prestazioni per la caratterizzazione senza contatto e non distruttiva di quasi tutte le superfici e pellicole. Questo strumento di misurazione delle superfici si basa sulla nostra consolidata tecnologia SurfaceSens e può eseguire numerose operazioni di misurazione in un unico sistema. Un sensore CWL ad alta risoluzione consente di misurare in modo semplice e affidabile molti parametri, ad esempio topografia, rugosità e contorno. Grazie a un'ampia gamma di sensori aggiuntivi, è inoltre possibile adattare il MicroProf 200 in modo personalizzato alle proprie attività di misura. Utilizzando il modulo TTV per l'ispezione da entrambi i lati o il modulo per la gestione automatica dei campioni (MHU), il MicroProf 200 può essere facilmente adattato alle nuove esigenze di misura in qualsiasi momento. Grazie a queste funzionalità, lo strumento è in grado di soddisfare i più elevati requisiti di automazione.