Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XDAL®

di misuraper l'industria elettronicacompatto

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® è il miglior strumento di misura a fluorescenza da raggi X della XDL; serie . Come gli altri prodotti della serie, esegue misurazioni dall'alto verso il basso rendendo semplice e conveniente il test su campioni dalle sagome particolari. Per ottimizzare le tue specifiche condizioni di misurazione, FISCHERSCOPE X-RAY XDAL; viene fornito con collimatori e filtri intercambiabili di serie. In caso di attività di misura impegnative scegliere il tipo di rivelatore più idoneo è fondamentale! A tale scopo FISCHERSCOPE X-RAY XDAL offre 3 diversi rivelatori a semiconduttore. Il Si-PIN è un rilevatore di fascia media e adatto per misurare più elementi su un'area di misura relativamente ampia. Se dotato di Si-PIN, XDAL viene spesso utilizzato per ispezionare rivestimenti di materiali duri. Il rivelatore Silicon Drift Detector (SDD) di alta qualità offre una migliore risoluzione energetica rispetto al Si-PIN. Gli spettrometri XDAL equipaggiati in questo modo vengono utilizzati per risolvere compiti di misura complessi nel settore elettronico: ad esempio per la misura di strati sottili di lega o per l'analisi di materiali con elementi molto simili come l'oro e il platino. Si tratta dello strumento XRF più adatto per il controllo di qualità con applicazioni ENIG ed ENEPIG.