Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XDV®-µ

di misuraautomaticoad alta precisione

• Potente modello premium per la misurazione precisa dello spessore del rivestimento e l'analisi dei materiali sulle strutture più piccole e sui rivestimenti più sottili < 0,1 µm • Tube microfocus Ultra avec anode en tungstène pour des performances encore plus élevées sur les plus petites taches avec µ-XRF; anodo in molibdeno opzionale • Filtro intercambiabile 4 volte • Rivelatore di deriva al silicio estremamente potente con area di 20 mm² o 50 mm² per la massima precisione sugli strati sottili • Ottica policapillare di produzione propria per punti di misura minimi fino a 10 μm FWHM, con tempi di misura brevi e intensità elevata • Processore di impulsi digitali DPP+ per velocità di conteggio più elevata, tempi di misura ridotti o migliore ripetibilità dei risultati di misura • Analisi di elementi da Al(13) a U(92), spurgo dell'elio disponibile, misurazione simultanea fino a 24 elementi • Stadio XY programmabile ad alta precisione con accuratezza di posizionamento di < 5 µm per il posizionamento più accurato del campione e riconoscimento automatico del modello, per la migliore precisione di ripetibilità Campi di applicazione tipici • Misurazioni su componenti e strutture piatte di dimensioni molto ridotte, come circuiti stampati, contatti o cornici di piombo • Misura dei rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori • Analisi di rivestimenti molto sottili, ad esempio rivestimenti di oro/palladio di ≤ 0,1 µm • Determinazione di sistemi complessi di rivestimento multiplo