Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XAN®

da laboratoriodi misura

• Spettrometri di fluorescenza da raggi X universali per analisi di metalli e metalli preziosi, misurazione dello spessore del rivestimento e schermatura RoHS secondo lo standard DIN ISO 3497 e ASTM B 568 • I rilevatori semiconduttori premium (PIN e SDD) garantiscono eccellente precisione di rilevamento e alta risoluzione • XAN 250 e 252 per la misura di elementi luminosi come alluminio, silicio o zolfo; • Collimatore: fisso o 4x variabile, punto di misura più piccolo ca. 0.3mm • Filtro primario: fisso o 6x modificabile • Supporto campione fisso o stadio XY manuale • Videocamera per la rapida localizzazione del punto di misura migliore • Altezza del campione fino a 17 cm; Applicazioni • Analisi non distruttiva di leghe dentali, test dell'argento • Rivestimenti multistrato • Analisi di rivestimenti funzionali spessi almeno 10 nm nell'industria elettronica e dei semiconduttori • Analisi in traccia nell'ambito della protezione del consumatore, ad es test sulla presenza di piombo nei giocattoli • Determinazioni di leghe metalliche secondo i requisiti di precisione richiesti nell'industria della gioielleria e nelle raffinerie