Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XDV®-µ LD

di misuraautomaticodi gamma superiore

Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD è lo strumento XRF leader del settore per applicazioni di connettori ed elettronica. L'esclusiva distanza di misura di 12 mm consente di misurare parti di prova di forma complessa, come i PCB assemblati con un'altezza di 140 mm. Realizza i punti di misura più piccoli con un'eccellente stabilità e un'elevata intensità. Un rilevatore di deriva al silicio ad ampia superficie, il capillare ad alte prestazioni Long Distance e il processore di impulsi digitali DPP+ integrato di serie consentono misure precise e ripetibili con elevate frequenze di conteggio e tempi di misura ridotti. Caratteristiche • La più grande distanza di misura possibile nella sua categoria, con 12 mm. • Altezza del campione fino a 14 cm • Tubo microfocus Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sugli spot più piccoli con µ-XRF; anodo in molibdeno opzionale • Filtro intercambiabile 4 volte • Rivelatore di deriva al silicio estremamente potente con area di 50 mm² per la massima precisione sui film sottili • Ottica policapillare di produzione propria per punti di misura minimi 60 μm FWHM, per tempi di misura brevi con intensità elevata • Processore di impulsi digitali DPP+ per velocità di conteggio più elevate, tempi di misura ridotti o migliore ripetibilità dei risultati di misura • Analisi di elementi da S(16) a U(92), spurgo dell'elio disponibile, misurazione simultanea fino a 24 elementi • Stadio XY programmabile ad alta precisione con accuratezza di posizionamento di < 5 µm per il posizionamento più accurato del campione e riconoscimento automatico del modello, per la migliore precisione di ripetibilità