Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XDLM®

di misuradi monitoraggioper ispezione

• Rivestimenti elettro-placcati e galvanizzati come zinco su ferro per la protezione dalla corrosione; • Test seriale di parti prodotte in serie • Analisi della composizione di acciai speciali, ad es. rilevamento di molibdeno in A4 • rivestimenti cromati decorativi, ad es. Cr/Ni/Cu/ABS • Misurazione di rivestimenti funzionali in oro su circuiti stampati come Au/Ni/Cu/PCB o Sn/Cu/PCB • Rivestimenti su connettori e contatti nel settore elettronico come Au/Ni/Cu e Sn/Ni/Cu Gli spettrometri FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® e XDLM® si prestano all'utilizzo con la serie XUL ;. Tutti i componenti principali - come rivelatore, tubi a raggi X e combinazioni di filtri - sono identici. Ma hanno una differenza significativa: gli strumenti XDL e XDLM prevedono la misura dall'alto verso il basso. Questo metodo è particolarmente adatto per campioni non piatti: in questo modo le forme complesse non saranno più un problema! La modalità di misurazione dall'alto verso il basso presenta un altro vantaggio: Semplifica le misure automatizzate. Dotati di stadio di campionamento programmabile, XDL; 240 e XDLM; 237 sono ideali per la scansione di superfici. In questo modo potrai testare lo spessore degli strati su parti più grandi o misurare automaticamente numerose parti piccole in successione. Come per la serie XUL; la "M" presente in XDLM indica il "tubo microfuoco". Questi strumenti sono pertanto particolarmente adatti per l'analisi di piccoli campioni. Con un punto di misura di soli 0,1 mm di diametro, XDLM è perfetto per l'impiego nel settore elettronico.