Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XDAL® 600

per dispositivi elettronicidi misura

Determinazione di film sottili, oligoelementi e leghe. Strumento universale per la misurazione di strutture minime, rivestimenti multistrato molto sottili, rivestimenti funzionali e rivestimenti molto sottili ≤ 0,1 µm. Prestazioni migliorate fino al 50% ¹ prestazioni grazie a DPP+ Tavola portacampioni regolabile manualmente per un posizionamento facile e veloce della sonda Regolazione della distanza di misura tramite metodo brevettato DCM Analisi universale di fluorescenza a raggi X per strati molto sottili. FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 è l'analizzatore XRF universale di Fischer per la determinazione di strati sottili, elementi in traccia e leghe. Con la misurazione dall'alto verso il basso, il campione viene semplicemente posizionato sul tavolo di taglio azionato manualmente. Un puntatore laser serve come ausilio per il posizionamento. Ciò significa che anche i campioni con geometrie complesse possono essere analizzati con precisione e facilità. Versatile. Ideale per l'industria elettronica e dei semiconduttori Analisi RoHS. Determinazione affidabile delle sostanze pericolose Design a misura rapida. Il campione è posizionato e pronto per la misurazione in pochi passaggi Equilibrato. Rapporto costi-benefici ottimale Processore di impulsi digitali DPP+. Tempi di misura più brevi o miglioramento della deviazione standard*