Spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

di misuraper ispezioneSDD

Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD è uno degli strumenti a fluorescenza a raggi X più potenti della gamma Fischer. Questo spettrometro XRF è dotato di un potente rivelatore a deriva di silicio (SDD) ad alta risoluzione con un'area effettiva di 50 mm². Ciò consente di misurare in modo preciso e non distruttivo anche gli strati più sottili, ad esempio rivestimenti d'oro spessi circa 2 nm su telai di piombo. In combinazione con il nuovo processore di impulsi digitali DPP+, sviluppato internamente, è possibile aumentare le prestazioni di misura a un nuovo livello. È ora possibile elaborare frequenze di conteggio ancora più elevate, con conseguente riduzione dei tempi di misura o miglioramento della ripetibilità dei risultati di misura. Allo stesso tempo, l'XDV-SDD è perfettamente adatto all'analisi non distruttiva dei materiali. Ad esempio, la sua sensibilità di rilevamento di tracce di piombo nella plastica è di circa 2 ppm, diversi ordini di grandezza inferiore ai valori richiesti dalla RoHS o dalla CPSIA. Per creare le condizioni ideali per ogni misurazione dello spessore del rivestimento XRF, l'XDV-SDD è dotato di collimatori e filtri primari intercambiabili, che consentono di lavorare a livello scientifico. Il dispositivo, estremamente robusto e dotato di un pannello di controllo intuitivo, è facile da utilizzare tramite un joystick e dei pulsanti ed è stato progettato specificamente per i test in serie nell'uso industriale.