Socket di test per dispositivi elettronici al quarzo GUT8 Seriesdi burn-in
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Caratteristiche
- Applicazioni
- per dispositivi elettronici al quarzo
- Specificazioni
- di burn-in
Descrizione
Zoccolo di prova per dispositivi a cristallo (oscillatori al quarzo, MEMS, ecc.)
Tipo aperto
Questo zoccolo di prova è progettato per l'impostazione automatica dei dispositivi ed è ideale per la valutazione delle prestazioni di componenti come gli oscillatori a cristallo.
- Compatibile con vari formati di package: 2016, 2520, 3225, 5032 e altri
- Ottimizzato per costi e tempi di consegna
- Progetti personalizzati disponibili su richiesta con le specifiche del dispositivo
Specifiche (tipiche)
Corrente nominale: 0,5A a 25°C
Resistenza di contatto iniziale: 200mΩ max
Tensione di rigidità dielettrica: AC100V rms 1 min
Resistenza di isolamento: 1000MΩ min a DC100V
Intervallo di temperatura: da -40 a +150°C
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Cataloghi
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TestSockets for Characterization Test
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.