Socket di test per dispositivi IC

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socket di test PoP
socket di test PoP
Euclid Series

... materiali Corpo in plastica di proprietà per test BGA / LGA di dimensioni maggiori Calcolo di precisione dell'allineamento Dispositivo fisso o flottante sostituibile per l'allineamento di dispositivi ...

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Smiths Interconnect
socket di test QFN
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Celsius Series

... Il contatto Celsius di Smiths Interconnect sfrutta un percorso del segnale leggermente più lungo per offrire vantaggi significativi in termini di conformità, gestione della temperatura e capacità di trasporto della corrente. Un contatto autonomo, Celsius ...

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Smiths Interconnect
socket di test PoP
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Silmat®

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Smiths Interconnect
socket di test WLCSP
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Volta series

... delle tradizionali schede a sonda verticale. Smiths Interconnect ha creato migliaia di teste di misura per ogni tipo di dispositivo e prober. In questo processo, abbiamo creato una famiglia di sonde a contatto a molla ottimizzate per ...

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Smiths Interconnect
socket di test QFN
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Kepler

... pad del dispositivo -Breve percorso del segnale -Design del socket Tri-Temp per supportare da -55 °C a +150 °C -Flessibilità di progettazione configurabile per l'integrazione in configurazioni hardware esistenti -Progettato ...

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Smiths Interconnect
socket di test QFN
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... conduttive che garantiscono risultati di test accurati e coerenti per una vasta gamma di dispositivi. Le colonne conduttive della griglia elastomerica garantiscono risultati di test accurati e coerenti ...

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Smiths Interconnect
socket di test con contatto elastomerico
socket di test con contatto elastomerico
Levan

... conduttive che garantiscono risultati di test accurati e coerenti per una vasta gamma di dispositivi. Le colonne conduttive della griglia elastomerica garantiscono risultati di test accurati e coerenti ...

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socket di test ASIC
socket di test ASIC
DaVinci Gen V

... Sistemazione ad alta coplanarità Design dello zoccolo tri-temp per supportare da -55 °C a +150 °C Progettato per test manuali, test al banco e test di produzione HVM utilizzando lo stesso zoccolo Nuovo ...

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Smiths Interconnect
socket di test PoP
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Smiths Interconnect
socket di test QFN
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... Impegnato a supportare socket IC personalizzati e su misura che soddisfano esigenze precise. - Esempi di applicazione: - Test di precisione di bussole elettroniche - Valutazione delle caratteristiche ...

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Seiken Co., Ltd.
socket di test QFN
socket di test QFN
HC-C

... durata del socket. Inoltre, i design dei socket possono essere personalizzati per consentire l'estrazione di segnali individuali per i terminali emettitori e di gate, anche con layout complessi di elettrodi periferici. - ...

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Seiken Co., Ltd.
socket di test per alta frequenza
socket di test per alta frequenza

... altri. I zoccoli IC sono vitali per garantire la qualità di questi dispositivi confezionati attraverso test elettrici, mantenendo il chip in posizione con pin di sonda precisi. La Struttura degli Zoccoli ...

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Seiken Co., Ltd.
socket di test per dispositivo IC
socket di test per dispositivo IC

... nelle applicazioni più impegnative degli ambienti di test moderni. I nostri socket IC a passo fine sono uno strumento essenziale per lo sviluppo e il test dell'elettronica all'avanguardia. - ...

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Seiken Co., Ltd.
socket di test per dispositivo IC
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... produzione completa, garantendo un'integrazione assoluta nel tuo ambiente di test. - Layout flessibile dei pin per esigenze di test complesse: A differenza dei socket tradizionali, i socket ...

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Seiken Co., Ltd.
socket di test per dispositivo IC
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GD21-HU3PAK-K-TEKB

... Set di schede di prova HU3PAK + valutazione Risparmiate tempo eliminando la necessità di progettare e reperire separatamente zoccoli e circuiti stampati: create rapidamente il vostro ambiente di valutazione. - Accelera lo sviluppo e riduce i ritardi ...

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socket di test a scatto
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DCL-QFP1414-100-P050

... alle dimensioni dei dispositivi QFP/SOP e che possono essere consegnati in tempi brevi. [Applicazione] - Montaggio su PCB per la produzione di massa - Test finale e ispezione in un ambiente reale (es. automobili, robotica, ...

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JC CHERRY INC.
socket di test per transistor outline (TO)
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B1506A-TO-252-6599

... l'analizzatore di dispositivi di potenza Keysight B1506A In grado di misurare le caratteristiche IV e le caratteristiche CV dei dispositivi di potenza - Progettazione e produzione di zoccoli di prova, circuiti stampati ...

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socket di test per dispositivo IC
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GD18-TO263-7-K-109-TEKB

... Set di schede di test TO-263-7/D2-PAK+valutazione Risparmiate tempo eliminando la necessità di progettare e reperire separatamente zoccoli e circuiti stampati: create rapidamente il vostro ambiente di valutazione. - Accelera lo sviluppo ...

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JC CHERRY INC.
socket di test QFN
socket di test QFN
GGT18 Series

... prova RF può essere utilizzato per una varietà di dispositivi IC e anche per posizioni irregolari dei pin. Caratteristiche: - Per la valutazione dei dispositivi - Utilizzabile per vari tipi di dispositivi - ...

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JC CHERRY INC.
socket di test di burn-in
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GU22 Series

... - Resistenza di isolamento - Temperatura di esercizio Passo - Dispositivo accettabile - Dimensione del dispositivo accettabile - Accettiamo modelli di piedini e spessori di dispositivi IC ...

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JC CHERRY INC.
socket di test per alta frequenza
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... l'analisi delle emissioni Opzioni di alloggiamento personalizzate disponibili per schede senza fori per i socket Ideale per la sostituzione di dispositivi, lo sviluppo di software e la valutazione ...

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socket di test di burn-in
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GQ29-QFN Series

... "x1,20" Può essere utilizzato anche come zoccolo di bruciatura alta affidabilità costo competitivo temperatura: Per dispositivo QFN Come ordinare un progetto personalizzato GQ29-QFNxxxxxxx *Il P/N sarà comunicato dopo aver fissato ...

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JC CHERRY INC.
socket di test QFN
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Non-Floating

... Le prese per test di base non flottanti sono comuni per testare QFN e altri dispositivi senza piombo. Si tratta di un design a due pezzi che contiene i bottoni a pressione o i set di contatto elastomerici tra la base ...

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