Telecamera con scansione di area NS-615A-GE
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Telecamera con scansione di area - NS-615A-GE - Raythink Technology Co., Ltd. - 2D / digitale / industriale
Telecamera con scansione di area - NS-615A-GE - Raythink Technology Co., Ltd. - 2D / digitale / industriale
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Caratteristiche

Tecnologia
con scansione di area, 2D, digitale
Applicazioni
industriale, per l'industria dei semiconduttori, di visione per macchina industriale, per controllo di qualità
Spettro
SWIR
Interfaccia
GigE
Livello di risoluzione
640 x 512
Opzioni e accessori
a bassa rumorosità, InGaAs, a raffreddamento termoelettrico, con otturatore globale

Descrizione

Descrizione
La NS-615A-GE è una camera SWIR ad area basata su un sensore InGaAs con correzione immagine e algoritmi di elaborazione integrati. Fornisce uscita digitale tramite interfaccia GigE, otturatore globale snapshot e basso consumo, adatta per ispezione di semiconduttori, smistamento e applicazioni di visione industriale che richiedono imaging nell'infrarosso a onde corte.

Caratteristiche principali
  • Uscita digitale a basso rumore
  • Interfaccia GigE per trasmissione immagini
  • Correzione immagine e algoritmi di elaborazione integrati
  • Basso consumo per integrazione semplice

Specifiche (tabella)
Parametri tecnici: NS-615A-GE
  • Sensore: InGaAs
  • Gamma spettrale: 0,9 μm – 1,7 μm
  • Efficienza quantica: ≥70% (1,0–1,6 μm)
  • Fill factor ottico: 100%
  • Passo pixel: 15 μm
  • Pixel attivi: 640 × 512
  • Operabilità dei pixel: ≥99,8%
  • Frequenza max (matrice completa): 180 Hz
  • Profondità dati in uscita: 14 / 12 / 10 / 8 bit
  • Tipo esposizione: Otturatore globale snapshot
  • Tempo di integrazione min.: 100 μs
  • Gamma dinamica (tip.): 67 dB (HG)
  • Guadagno opzionale: 3
  • Corrente scura media per pixel: ≤100 ke-/s @ 20℃
  • Alimentazione: Typ. 12 V
  • Consumo tipico: <2,5 W (TEC off)
  • Interfaccia: GigE
  • Attacco obiettivo: C-Mount
  • Peso del core: 150 ± 5 g
  • Dimensioni del core: 46 × 46 × 61 mm
  • Temperatura operativa: -40℃ a +60℃
  • Temperatura di stoccaggio: -40℃ a +85℃
  • Controllo temperatura: TEC1


Applicazioni
  • Ispezione di semiconduttori
  • Smistamento e controllo qualità
  • Visione industriale e ispezioni che richiedono imaging SWIR


Specifiche tecniche
  • Modello: NS-615A-GE
  • Tipo sensore: InGaAs
  • Risposta spettrale: 0,9–1,7 μm
  • Risoluzione: 640 × 512
  • Passo pixel: 15 μm
  • Interfaccia: GigE
  • Attacco: C-Mount

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INTERSCHUTZ 2026
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1-06 giu 2026 HANNOVER (Germania)

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    Sensor+Test 2026
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    9-11 giu 2026 Nürnberg (Germania)

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