Durometro micro Vickers DUH-210

da bancoper gommaper semiconduttore

Panoramica
Sistema di valutazione per misurare le proprietà dei materiali in micro-regioni (semiconduttori, LSI, ceramiche, dischi rigidi, film depositati per evaporazione e rivestimenti sottili) e per la valutazione della durezza di plastiche e gomme. Lo strumento registra la profondità di indentazione dinamica durante l'applicazione del carico, anziché l'impronta residua dopo il test, consentendo la misura di film molto sottili e di strati superficiali/di trattamento. I dati dinamici forniscono inoltre i valori necessari per il calcolo del modulo elastico dei campioni.

Caratteristiche

• Valutazione di durezza e parametri dei materiali secondo norme (ISO 14577-1, Allegato A)
• Valutazione ad alta precisione del modulo elastico
• Capacità di prova a bassa forza con risoluzione di misura di 0,196 μN

Download (selezionati)

• Soluzioni di analisi per plastiche riciclate (brochure, PDF)
• DUH-211/211S - Dynamic Ultra Micro Hardness Testers (brochure, PDF)
• Strumenti per la valutazione di dispositivi elettronici (brochure, PDF)
• Manuale di istruzioni (PDF)
• Manuale software (PDF)

Applicazioni (selezionate)

• Valutazione multifaccettata delle variazioni delle proprietà fisiche di plastiche riciclate mediante processi avanzati di riciclo (casi di studio)
• Esempi di applicazione su polipropilene degradato o simulato degradato e su polietilene riciclato
• Caratterizzazione dei materiali per film sottili, rivestimenti e superfici di dispositivi in R&D per semiconduttori ed elettronica

Specifiche tecniche

• Modello: DUH-210/DUH-210S (Dynamic Ultra Micro Hardness Tester)
• Metodo di misura: misurazione dinamica della profondità di indentazione durante l'indentazione (non post-indentazione)
• Dati utilizzabili per il calcolo del modulo elastico dei campioni
• Norme: valutazione conforme a ISO 14577-1 (Allegato A)
• Risoluzione di misura: 0,196 μN (capacità a bassa forza)
• Applicazioni tipiche: semiconduttori, LSI, ceramiche, dischi rigidi, film depositati per evaporazione, rivestimenti sottili, plastiche, gomme
• Consente la misurazione di film molto sottili e di strati superficiali/di trattamento non misurabili con durometri convenzionali