Sistema di ispezione ottico AM018TH

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Il sistema di ispezione dei wafer AM018T è una soluzione veloce, accurata e completa che consente di rilevare e selezionare i wafer in base a dimensioni, spessore, macchie, scheggiature, resistività, microfessure, tipo P/N, fori, ecc. Il pioniere dei sistemi di selezione dei wafer nel mercato nazionale Grazie alle eccellenti prestazioni di ispezione e all’affidabile automazione, il sistema di ispezione si è guadagnato un’ottima reputazione ed è diventato la prima scelta dei clienti di tutto il mondo. Il sistema di ispezione dei wafer ad alta velocità è progettato specificamente per il controllo qualità di fine linea a seguito dei processi di taglio e pulizia nella produzione dei wafer e funge da controllo di qualità finale prima della spedizione dei wafer. Funzione principale: eseguire l’ispezione completa e la classificazione dei wafer, garantendo che solo quelli qualificati entrino nel processo di produzione delle celle, ottenendo così una qualità migliore a prezzi più competitivi. I dati generati dal sistema di ispezione dei wafer possono anche essere trasmessi al precedente processo di taglio per l’ottimizzazione del processo e il miglioramento della resa. Vantaggi tecnologici: a) Apparecchiatura essenziale per la produzione in serie di celle solari ad alta efficienza, in linea con la tendenza verso wafer di grandi dimensioni (182-230 mm, interi e tagliati a metà) e più sottili (100-240 μm); b) Ispezione basata sull’intelligenza artificiale: la combinazione di algoritmi tradizionali e deep learning consente di identificare difetti complessi quali microfessure (lunghezza ≥ 0,5 mm), segni di taglio (±3 µm) e TTV (±2 µm) in modo più accurato e stabile, con un tasso di rilevamento superiore al 98%; c) Elevata stabilità e basso tasso di rottura: sfruttando la tecnologia di trasferimento non distruttiva di tipo Bernoulli