Socket di test di rodaggio GD18-TO252-x-755
Kelvinper transistor outline (TO)

Socket di test di rodaggio - GD18-TO252-x-755 - JC CHERRY INC. - Kelvin / per transistor outline (TO)
Socket di test di rodaggio - GD18-TO252-x-755 - JC CHERRY INC. - Kelvin / per transistor outline (TO)
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Caratteristiche

Specificazioni
di rodaggio, Kelvin, per transistor outline (TO)

Descrizione

Zoccolo di prova per pacchetti TO Per TO-252/D-PAK Dimensioni18x32,9mm / 0,71x1,30" A conchiglia - Test di burn-in - Contatto Kelvin (opzione) - Corrente nominale: 10A - Temperatura di funzionamento: [Dispositivo accettabile] IRF40R207 (Infineon) TK560P65Y (TOSHIBA) MJD47 (ON Semiconductor) 2SD1918 (ROHM) ** Incluso l'aumento di temperatura del terminale. *** È possibile supportare anche altri modelli di terminali. I fori passanti GK, DK, SK sono per il contatto Kelvin. Se il contatto Kelvin non è richiesto, questi fori non sono necessari. In grado di supportare altre dimensioni di dispositivi. Contattateci per ulteriori informazioni. Anche se il dispositivo è elencato, potrebbe non essere compatibile a causa dell'ampia tolleranza delle dimensioni del dispositivo. Pertanto, si prega di inviare il campione del dispositivo in anticipo e controlleremo la compatibilità.

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Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.