RAPID™ MEM introduce funzionalità di processo avanzate, monitoraggio e diagnostica in tempo reale per garantire la migliore qualità ed efficienza di assemblaggio per applicazioni di semiconduttori ad alte prestazioni e ad alta affidabilità.
Caratteristiche principali:
Monitoraggio in tempo reale dei processi e delle prestazioni
Monitoraggio in tempo reale della salute delle apparecchiature
Analisi avanzata dei dati e tracciabilità
Monitoraggio e analisi della manutenzione predittiva
Rilevamento e ispezione post-incollatura migliorata
Processi basati sulle risposte più recenti
- ProAu-2, ProAg-2, ProAg-2
- PSP-Ag
- ProOverhang
- Incollaggio a più punti
Configurazioni dell'area collegabile:
RAPID MEM LA (grande area)
RAPID MEM ELA (Extended Large Area)
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