Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SU5000
per analisi3Din-situ

microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione ad emissione di campo
Applicazioni tecniche
per analisi
Tecnica di osservazione
BF-STEM, 3D, DF-STEM, in-situ
Configurazione
a pavimento
Sorgente di elettroni
a emissione di campo Schottky
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni secondari, con rilevatore di elettroni retrodiffusi
Opzioni e accessori
assistito da computer
Altre caratteristiche
per nanotecnologie, ad alta risoluzione, automatizzato, a scansione con pressione variabile, per campioni piatti, per campioni levigati, per topografia, per l'identificazione di amianto, per acquisizione simultanea, per le scienze della Terra, a forte ingrandimento
Risoluzione spaziale

1,2 nm

Descrizione

L'innovativo FE-SEM analitico consente una semplice transizione tra la modalità ad alto vuoto e quella a pressione variabile. EM Wizard è un sistema basato sulla conoscenza per l'imaging SEM che va oltre le condizioni e le ricette preimpostate di base. La sua facilità d'uso apre una nuova porta per la ricerca sui materiali, lo sviluppo e l'area al di là della nostra immaginazione. Il FE-SEM SU5000 ha cambiato per sempre le operazioni al SEM. L'innovativa tecnologia computerizzata di Hitachi, denominata EM Wizard, offre un nuovo livello di funzionamento e controllo del SEM. Esperti o principianti, il risultato è ora lo stesso: immagini di altissima qualità su scala nanometrica a portata di mano di tutti! - Un'interfaccia utente nuova e rivoluzionaria, EM Wizard, offre a tutti gli utenti livelli ottimali di risoluzione, ripetibilità e produttività. Con EM Wizard, i principianti diventano esperti da un giorno all'altro. - La tecnologia di regolazione automatica degli assi (autocalibrazione) riporta il microscopio alle sue "migliori condizioni" su richiesta. - Una robusta camera per campioni "a estrazione" accoglie campioni di grandi dimensioni (-200 mmφ, -80 mmH). - Sostituzione rapida del campione con evacuazione fino all'osservazione in 3 minuti o meno. - Ottimizzazione automatica e intuitiva delle immagini su richiesta. - Una guida visiva e interattiva offre modalità SEM "pick and choose" per garantire le migliori condizioni operative. - Con lo strumento 3D MultiFinder, i campioni possono essere facilmente inclinati e ruotati con l'immagine centrata e a fuoco. Le informazioni angolari multiple fornite da un rivelatore anulare di elettroni di retrodiffusione (BSD) di nuova concezione acquisiscono simultaneamente informazioni topografiche e compositive.

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VIDEO

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 apr 2024 Stuttgart (Germania) Stand 7103

  • Maggiori informazioni
    The Advanced Materials Show

    15-16 mag 2024 Birmingham (Regno Unito)

  • Maggiori informazioni

    Altri prodotti Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.