Panoramica del prodottoAMB (Active Metal Brazing) è un processo di brasatura ad alta temperatura che crea un legame chimico tra ceramica e metallo tramite elementi attivi (Ti, Zr) nel materiale d'apporto, formando uno strato reattivo che può essere bagnato dal metallo d'apporto liquido. Il legame chimico risultante offre elevata resistenza meccanica e affidabilità a lungo termine per l'imballaggio di dispositivi di potenza.
Elementi attivi e note di processoIl contenuto di elementi attivi è tipicamente mantenuto tra il 2% e l'8% per preservare l'attività. Un contenuto eccessivo aumenta la fragilità della saldatura e può ridurre la resistenza della tenuta; un contenuto insufficiente diminuisce l'umidità superficiale sulla ceramica e può impedire la completa sigillatura ermetica.
Vantaggi- Legame chimico tra ceramica e saldatura attiva a elevate temperature → maggiore resistenza di giunzione e affidabilità migliorata
- Possibilità di spessori di rame differenti su una singola piastra
- Processo ecologico
- Elevata resistenza ai cicli termici e alle basse temperature
- Compatibile con automazione completa per alta efficienza produttiva e basso costo
- Spessore del rame 0,1–0,5 mm disponibile, adatto per l'incapsulamento di dispositivi ad alta potenza
Applicazioni- Moduli di potenza SiC
- Moduli IGBT
- Inverter per azionamenti elettrici
- Inverter fotovoltaici
- Convertitori per energia eolica
- Convertitori di frequenza industriali
- Alimentatori switching ad alta potenza
- Alimentatori per stazioni base 5G
- Alimentatori ad alta potenza per data center
- Moduli RF per comunicazioni
ProprietàSi3N4 (Nitruro di silicio)
Composizione: 96% SiN
Spessore (mm): 0,2; 0,32; 0,35; 0,635; 0,4–1,5
Densità (g/cm3): 3,2 ± 0,25
Conduttività termica (20°C, W/m·K): 85+
Resistenza a flessione (MPa): 700–800
Costante dielettrica (1 MHz): 8
Perdita dielettrica (1 MHz): 0,001
Resistenza dielettrica (kV/mm): 20
Resistività volumetrica (Ω·cm): 1e14
AlN (Nitruro di alluminio)
Composizione: 96% AlN
Spessore (mm): 0,25; 0,32; 0,635
Densità (g/cm3): 3,3
Conduttività termica (20°C, W/m·K): 170+
Resistenza a flessione (MPa): 350
Costante dielettrica (1 MHz): 9
Perdita dielettrica (1 MHz): 0,0005
Resistenza dielettrica (kV/mm): 20
Resistività volumetrica (Ω·cm): 1e14
Rame (senza ossigeno)
Purezza (%): 99,99
Durezza (HV): 60–110
Conduttività (MS/m): 58,6
Spessore (mm): 1,2; 1,0; 0,8; 0,5; 0,4; 0,3; 0,25; 0,2
Sottostrato AMB (generale)
Dimensione massima (mm): 190 × 140
Spaziatura tracce (mm): ≥0,5
Larghezza traccia: personalizzata
Forza di adesione dello strato di rame (min) (N/mm): >10
Saldabilità (%): >95%
Consegna: pezzi piccoli o pannelli
Finiture superficiali: Cu / Au / Ag
Specifiche / dati tecnici- Opzioni materiale: Si3N4 (96% SiN) e AlN (96% AlN)
- Spessori Si3N4: 0,2; 0,32; 0,35; 0,635; 0,4–1,5 mm
- Spessori AlN: 0,25; 0,32; 0,635 mm
- Densità Si3N4: 3,2 ± 0,25 g/cm³; densità AlN: 3,3 g/cm³
- Conduttività termica: Si3N4 ~85+ W/m·K; AlN ~170+ W/m·K (20°C)
- Resistenza a flessione: Si3N4 700–800 MPa; AlN ~350 MPa
- Costante / perdita dielettrica: Si3N4 8 / 0,001 (1 MHz); AlN 9 / 0,0005 (1 MHz)
- Resistenza dielettrica: 20 kV/mm (entrambi)
- Resistività volumetrica: 1e14 Ω·cm (entrambi)
- Rame: senza ossigeno, purezza 99,99%; conduttività 58,6 MS/m; spessori 0,2–1,2 mm
- Meccanica / assemblaggio: adesione >10 N/mm; saldabilità >95%
- Dimensione max substrato: 190 × 140 mm; spaziatura min tracce ≥0,5 mm; larghezza traccia personalizzabile
- Opzioni finitura superficiale: Cu / Au / Ag