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Sistema di ispezione ottico Galaxy 4Cχ
a cameraautomaticodi misura

Sistema di ispezione ottico - Galaxy 4Cχ - CIMS - a camera / automatico / di misura
Sistema di ispezione ottico - Galaxy 4Cχ - CIMS - a camera / automatico / di misura
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Caratteristiche

Tecnologia
a camera, ottico
Specificazioni
automatico
Tipo
per rilevamento di difetti, di misura
Applicazioni
per la produzione, per l'industria elettronica
Applicazioni prodotto
per wafer
Configurazione
in linea
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, senza contatto

Descrizione

Descrizione
  • Ispezione ottica automatizzata (AOI) per substrati IC con risoluzione minima linea/spazio fino a 4 µm.
  • Galaxy 4Cχ è l'ultima generazione di sistemi AOI di CIMS, dotata di fotocamera a colori e ottica Prisma™ Gen II per acquisizione di immagini ad alto contrasto a velocità di produzione.
  • Progettato per supportare la produzione ad alto volume di substrati IC di nuova generazione combinando imaging ad alta risoluzione e algoritmi di rilevamento configurabili gestiti da Spark™ 3.0.
  • Opzioni modulari e pacchetti di metrologia consentono flussi di lavoro di ispezione e misura in linea per pannelli e componenti di circuito.


Punti chiave
  • Motori lineari per movimento fluido e silenzioso
  • Piattaforma meccanica compatta per integrazione in fabbrica
  • Architettura hardware di 6ª generazione
  • Blocco di illuminazione migliorato con opzione X-WAVE™ multi-onda
  • Configurazione rapida e intuitiva per nuovi job
  • Compatibile con automazione frontale AMHS o manipolazione robotica


Opzioni
  • Fi™ — opzione di ispezione finale per schede finite
  • +2DM™ metrologia — misura delle dimensioni del pannello
  • +2CD™ metrologia — misura 2D degli elementi di circuito
  • +3DH™ metrologia — misura 3D dell'altezza degli elementi
  • +3DP™ metrologia — profilatura 3D degli elementi di circuito
  • LDI™ — opzione di ispezione foratura laser
  • CDB™/CDBIC™ — classificazione dei difetti e mappatura virtuale dei difetti
  • VVS™ — sistema di verifica virtuale
  • X-WAVE™ — illuminazione multi-onda


Specifiche tecniche
  • Applicazione: Ispezione ottica automatizzata (AOI) per substrati IC
  • Risoluzione minima linea/spazio: 4 µm
  • Fotocamera: Fotocamera a colori
  • Tecnologia ottica: Prisma™ Gen II
  • Motore di rilevamento: Spark™ 3.0 (cross-platform)
  • Sistema di movimento: Motori lineari per movimento fluido e silenzioso
  • Meccanica: Piattaforma compatta per layout di fabbrica densi
  • Generazione hardware: Hardware di 6ª generazione
  • Illuminazione: Blocco di illuminazione migliorato (X-WAVE™ opzionale)
  • Compatibilità automazione: AMHS frontale o robot
  • Opzioni di metrologia: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Altre opzioni: Fi™ ispezione finale, LDI™ ispezione foratura laser, CDB™/CDBIC™ classificazione dei difetti, VVS™ verifica virtuale

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.