Diventa espositore
*mydirectindustry  
Italiano
  1. Metrologia - Laboratorio
  2. Ispezione e Monitoraggio
  3. Macchina di ispezione ottica
  4. CIMS

Macchina di ispezione ottica AIVR 5μ
videoper semiconduttoreper wafer inciso

Macchina di ispezione ottica - AIVR 5μ - CIMS - video / per semiconduttore / per wafer inciso
Macchina di ispezione ottica - AIVR 5μ - CIMS - video / per semiconduttore / per wafer inciso
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti

Caratteristiche

Tecnologia
ottica, video
Applicazioni
per wafer inciso, per semiconduttore
Settore specifico
per l'industria elettronica
Altre caratteristiche
alta risoluzione, con intelligenza artificiale

Descrizione

Descrizione
AIVR è una stazione di verifica CIMS con intelligenza artificiale che combina verifica virtuale e fisica all'interno di una singola postazione. La CIMS AIVR 5μ è progettata per supportare la produzione ad alto volume di substrati per circuiti integrati ed è ottimizzata per la verifica di tecnologie linea/spazio 5–25 µm. In modalità AIVR l'operatore esamina le immagini dei difetti acquisite dall'AOI e elaborate con algoritmi di miglioramento immagine basati su IA, consentendo di scartare rapidamente i falsi allarmi evidenti. L'uso di AIVR migliora l'efficienza e la velocità della verifica integrando i risultati nel database di produzione. Un touchscreen opzionale permette la classificazione rapida dei difetti e il feedback QA in tempo reale. AIVR 5μ è compatibile con tutti gli AOI CIMS.

Caratteristiche principali
  • Combina la verifica di immagini AOI post-elaborate con la modalità video live
  • Fino al 90% di aumento dell'efficienza di verifica rispetto alla modalità tradizionale
  • Visualizza immagini a colori ad alta risoluzione dei difetti migliorate da IA, acquisite direttamente dall'AOI
  • Zoom variabile e calibrazione automatica
  • Tavolo a vuoto fisso
  • Design ergonomico
  • Immagine dei difetti nitida con illuminazione video regolabile

Opzioni
  • Auto-marker per la marcatura dei difetti
  • Lettore di codici a barre
  • Braccio monitor regolabile
  • CDB™/CDBIC™ – classificazione dei difetti e mappatura virtuale dei difetti
  • SharpLight™ – immagine video migliorata

Specifiche tecniche
  • Modello: AIVR 5μ
  • Applicazione: stazione di verifica AOI con IA per substrati di circuiti integrati
  • Tecnologia linea/spazio supportata: 5–25 µm
  • Modalità di verifica: verifica virtuale e fisica in un'unica postazione; immagini AOI post-elaborate e video live
  • Funzionalità: miglioramento immagine basato su IA, zoom variabile, calibrazione automatica, tavolo a vuoto fisso, design ergonomico, illuminazione video regolabile
  • Compatibilità: Compatibile con tutti gli AOI CIMS
  • Touchscreen opzionale per classificazione dei difetti e feedback QA in tempo reale
  • Opzioni: Auto-marker, Lettore di codici a barre, Braccio monitor regolabile, CDB™/CDBIC™, SharpLight™

Altri prodotti CIMS

PCB Inspection and Metrology

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.