Diventa espositore
*mydirectindustry  
Italiano
  1. Metrologia - Laboratorio
  2. Ispezione e Monitoraggio
  3. Sistema di ispezione ottico
  4. CIMS

Sistema di ispezione ottico SVS 10μ
a visione videoa cameraautomatizzato

Sistema di ispezione ottico - SVS 10μ - CIMS - a visione video / a camera / automatizzato
Sistema di ispezione ottico - SVS 10μ - CIMS - a visione video / a camera / automatizzato
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti

Caratteristiche

Tecnologia
a camera, ottico, a visione video
Specificazioni
automatizzato
Tipo
per rilevamento di difetti, visivo, video, di superficie riflettente
Applicazioni
per l'industria elettronica
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, controllato da computer, senza contatto

Descrizione

Descrizione
Stazione di verifica AVI per strip di substrati IC scansionate con sistemi AVI. SVS 10μ, stazione di verifica CIMS alimentata da Sprint™, è progettata per la verifica di geometrie linea/dito fino a 10 µm (ottimizzata per 10–18 µm).
Il sistema combina un canale di illuminazione riflettente/coassiale con tre canali diffusi per massimizzare il contrasto su superfici in oro e su solder mask. Il progetto ottico supporta il marcaggio preciso dei difetti e lo scarto delle unità difettose. Meccanica robusta e hardware dedicato garantiscono elevata produttività e stabilità operativa.
SVS 10μ offre un'interfaccia ergonomica e facile da usare che riduce i tempi di formazione. Si integra con CDB™ e CDBIC™ per la gestione dei dati di difetti e unità scartate ed è compatibile con tutti i sistemi AVI CIMS e con macchine di marcatura laser di terze parti.

Punti principali
  • Configurazioni di illuminazione video flessibili per contrasto ottimale
  • Calibrazione materiale automatizzata
  • Tavola a vuoto fissa per movimentazione stabile
  • Design ergonomico per efficienza operatore
  • Movimento ottimizzato difetto-a-difetto per ridurre i tempi ciclo
  • Immagine difetto nitida con illuminazione video regolabile

Opzioni
  • Lettore di codici a barre
  • Posizione monitor regolabile
  • CDB™/CDBIC™ – classificazione dei difetti e mappatura virtuale dei difetti

Specifiche tecniche
  • Larghezza minima line/finger rilevabile: 10 µm (ottimizzata per 10–18 µm)
  • Applicazione: verifica di strip di substrati IC scansionate con sistemi AVI
  • Illuminazione: canale luce riflettente/coassiale più tre canali diffusi
  • Ottica: progettata per consentire il marcaggio dei difetti e lo scarto delle unità difettose
  • Meccanica & hardware: costruzione robusta per elevata produttività ed efficienza
  • Interfaccia & ergonomia: interfaccia intuitiva, formazione minima richiesta
  • Compatibilità: pienamente compatibile con CDB™ e CDBIC™
  • Interoperabilità: compatibile con tutti i sistemi AVI CIMS e macchine di marcatura laser di terze parti

Altri prodotti CIMS

PCB Inspection and Metrology

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.