DescrizioneStazione di verifica AOI in modalità ibrida per substrati IC, supporto per linea/spazio minimo fino a 4 µm. VVR combina la verifica virtuale (immagini AOI post-elaborate) e la modalità video live in un'unica postazione, progettata per la produzione ad alto volume di substrati IC. Serie: VVR 4μ, VVR 5μ, VVR 7μ, VVR 10μ, VVR 15μ.
Punti salienti- Verifica integrata di immagini AOI post-elaborate e modalità video live
- Aumento dell'efficienza di verifica fino al 70% rispetto alle modalità tradizionali
- Visualizzazione di immagini dei difetti a colori post-elaborate direttamente dall'AOI
- Zoom variabile e calibrazione automatica per ispezioni ripetibili
- Tavolo a vuoto fisso per movimentazione sicura dei substrati
- Progettazione ergonomica della postazione
- Immagini dei difetti nitide con illuminazione video regolabile
Opzioni- Auto-marker per marcatura automatica dei difetti
- Lettore di codici a barre per tracciabilità
- Supporto monitor regolabile
- CDB™/CDBIC™ — classificazione dei difetti e mappatura virtuale dei difetti
- SharpLight™ — miglioramento dell'immagine video
- Touchscreen opzionale per classificazione da parte dell'operatore e feedback QA in tempo reale
Caratteristiche / specifiche tecniche- Tipo di prodotto: Stazione di verifica AOI in modalità ibrida per substrati IC
- Linea/spazio minimo supportato: fino a 4 µm
- Modelli di serie: VVR 4μ, VVR 5μ, VVR 7μ, VVR 10μ, VVR 15μ
- Modalità di verifica: verifica virtuale (immagini AOI post-elaborate) e modalità video live
- Elaborazione immagini: algoritmi avanzati di miglioramento immagine; immagini dei difetti a colori post-elaborate
- Miglioramento dell'efficienza: fino al 70% vs modalità di verifica tradizionale
- Ottica/caratteristiche: zoom variabile, calibrazione automatica, illuminazione video regolabile, opzione SharpLight™
- Meccanica: tavolo a vuoto stazionario, design ergonomico, supporto monitor regolabile (opzione)
- Tracciabilità/marcatura: opzione Auto-marker, opzione lettore di codici a barre
- Software/opzioni: CDB™/CDBIC™ per classificazione dei difetti e mappatura virtuale
- Integrazione: compatibile con tutti i sistemi AOI CIMS