DescrizioneIspezione finale di pannelli per substrati IC avanzati e HDI a linee ultrafini, con rilevamento minimo linea/spazio fino a 10 µm. Galaxy Fi 10Cχ, sistema di ispezione finale su pannello di CIMS, è dotato di una telecamera colore ad alta risoluzione e di una tecnologia ottica ottimizzata per massimizzare il contrasto su pannelli con vernice di saldatura e vari trattamenti metallici. Il sistema supporta la rilevazione affidabile di difetti su rame placcato, placcato in oro o OTC, vernice di saldatura e laminato nudo.
Punti di forza- Motori lineari per movimento fluido e silenzioso
- Struttura meccanica robusta
- Tavola a vuoto automatizzata per movimentazione sicura
- Firmware di elaborazione immagini ad alte prestazioni
- Computer di nuova generazione per l'elaborazione di grandi volumi di dati
- Setup rapido e intuitivo per nuovi job
- Compatibile con automazione AMHS frontale/posteriore o robot
Opzioni- 2DM™ metrology – misurazione delle dimensioni del pannello
- 2CD™ metrology – misurazione 2D degli elementi di circuito
- 3DH™ metrology – misurazione 3D dell'altezza degli elementi di circuito
- 3DP™ metrology – profilatura 3D degli elementi di circuito
- CDB™/CDBIC™ – classificazione dei difetti e mappatura virtuale dei difetti
- X-WAVE™ – illuminazione multi-onda
Specifiche tecniche- Famiglia di prodotti: Galaxy Fi series (sistemi di ispezione finale)
- Modello: Galaxy Fi 10Cχ
- Applicazione: Ispezione finale di pannelli per substrati IC avanzati e HDI a linee ultrafini
- Rilevamento minimo linea/spazio: 10 µm
- Imaging: telecamera colore con acquisizione immagini ad alta risoluzione
- Capacità ottica: contrasto massimizzato su vernice di saldatura; supporta rame placcato, placcato oro o OTC, vernice di saldatura e laminato nudo
- Motore di rilevamento: Spark™ 3.0 (motore di rilevamento multipiattaforma)
- Movimento: motori lineari per movimento fluido e silenzioso
- Meccanica: struttura meccanica robusta
- Movimentazione: tavola a vuoto automatizzata
- Elaborazione: computer di nuova generazione per grandi dati; firmware di elaborazione immagini ad alte prestazioni
- Usabilità: setup rapido e intuitivo per nuovi job
- Compatibilità automazione: compatibile con AMHS frontale/posteriore o robot
- Opzioni di metrologia disponibili: 2DM™, 2CD™, 3DH™, 3DP™
- Opzioni di ispezione/analisi disponibili: CDB™/CDBIC™; X-WAVE™