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Sistema di ispezione ottico SVS 8μ
a visione videoa cameraautomatizzato

Sistema di ispezione ottico - SVS 8μ - CIMS - a visione video / a camera / automatizzato
Sistema di ispezione ottico - SVS 8μ - CIMS - a visione video / a camera / automatizzato
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Caratteristiche

Tecnologia
a camera, ottico, a visione video
Specificazioni
automatizzato
Tipo
visivo, video, di superficie riflettente
Applicazioni
per l'industria elettronica, per PCB
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, controllato da computer, senza contatto

Descrizione

Descrizione
La SVS 8μ CIMS è una stazione di verifica AVI per substrati IC, progettata per verificare strip scansionate da sistemi AVI con risoluzione minima linee/dita fino a 8 µm. Alimentata da Sprint™, la stazione è ottimizzata per tecnologie con larghezze linee/dita 8–12 µm e supporta la gestione precisa dei difetti e un elevato throughput.

Ottica e illuminazione
Il sistema integra un canale luminoso riflettente/coassiale e tre canali diffusivi separati per massimizzare il contrasto su superfici dorate e solder mask. L'ottica assicura immagini nitide dei difetti e facilita la marcatura o lo scarto delle unità difettose. Il design meccanico robusto e l'hardware industriale garantiscono prestazioni stabili.

Usabilità e compatibilità
La SVS 8μ presenta un'interfaccia utente ergonomica che richiede una formazione minima. È pienamente compatibile con CDB™ e CDBIC™ per la gestione dei dati di difetti e unità scartate, e interopera con tutti i sistemi AVI CIMS e con le macchine di marcatura laser di terze parti.

Punti salienti
  • Configurazioni di illuminazione video flessibili
  • Calibrazione automatica dei materiali
  • Tavolo a vuoto stazionario
  • Design ergonomico per il comfort dell'operatore
  • Movimento ottimizzato difetto-a-difetto per il throughput
  • Immagine difetto chiara con illuminazione video regolabile

Opzioni
  • Lettore di codici a barre
  • Posizione del monitor regolabile
  • CDB™/CDBIC™ — classificazione dei difetti e mappatura virtuale dei difetti

Specifiche tecniche
  • Modello: SVS 8μ
  • Brand: CIMS
  • Applicazione: stazione di verifica AVI per substrati IC
  • Risoluzione minima linee/dita: fino a 8 µm
  • Ottimizzato per larghezza linee/dita: 8–12 µm
  • Illuminazione: canale riflettente/coassiale più tre canali diffusivi
  • Ottica: progettata per alto contrasto su superfici dorate e solder mask
  • Gestione dei difetti: marcatura o scarto delle unità difettose
  • Meccanica & hardware: meccanica robusta e hardware industriale per alto throughput
  • Interfaccia utente: ergonomica, formazione minima richiesta
  • Compatibilità: compatibile con sistemi AVI CIMS e macchine di marcatura laser di terze parti
  • Gestione dati: compatibile con CDB™ e CDBIC™
  • Opzioni: lettore di codici a barre; posizione del monitor regolabile; classificazione dei difetti e mappatura virtuale
  • Funzionalità speciali: calibrazione automatica dei materiali; tavolo a vuoto stazionario; movimento ottimizzato difetto-a-difetto; illuminazione video regolabile
  • Software: alimentato da Sprint™

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.